FWS 涂層厚度與膜重測試站

SpecMetrix® FWS 膜重測試站

SpecMetrix® 膜重測試站為實驗室提供非接觸式、非破壞性、實時的薄膜重量和涂層厚度測量數(shù)據(jù)。

由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量。

SpecMetrix®膜重測試站提供了非接觸、非破壞性、實時的離線厚度測量測試，適用于涂層樣品和平板薄膜。膜重測試站具有高度精確和快速的特點，通過單點和掃描模式進行厚度測試。

此外，它還可以在實驗室或涂布線上對干涂層薄膜或卷帶進行自動化的長度和寬度掃描測量。

簡化質(zhì)量控制流程

SpecMetrix®膜重測試站旨在簡化質(zhì)量控制測試，并改善對膜重和涂層厚度的過程控制。由于其強大能力，能夠以亞微米級精度識別和量化絕對膜重厚度，它是我們推薦的實驗室測量工具之一。

膜重測試站系統(tǒng)加速了離線薄膜測試，并改善了來料和成品檢驗。

多功能測量能力

SpecMetrix®膜重測試站提供可靠且可重復(fù)的測量：

· 精確快速地分析膜重

· 非接觸、非破壞性測量 – 確保樣品的完整性

· 測量濕樣或干樣，以及透明或有色著色基材

· 廣泛應(yīng)用 – 實時測量單層或雙層涂層，精度可達到亞微米級

完整的涂層洞察

SpecMetrix®膜重測試站提供了可靠性和可重復(fù)性，允許用戶獲取準確的涂層測試數(shù)據(jù)和質(zhì)量控制。

憑借SpecMetrix的精確和創(chuàng)新的ROI增強光學(xué)干涉技術(shù)，用戶可以為其產(chǎn)品和樣品獲取完整的膜重和涂層測量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測量。

該技術(shù)也非常安全——無放射性和無侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度先進，并在涂層行業(yè)中廣泛應(yīng)用。

強大的SensorMetric軟件

作為測量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便在生產(chǎn)運行期間或之后進行SPC分析。

此外，我們的軟件還包括一個配方助手，幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有配方。

可選的系統(tǒng)配置

SpecMetrix®膜重測試站設(shè)計為模塊化，因此可以輕松重新配置或升級系統(tǒng)以滿足您的測試和測量需求。

請與我們的專家團隊討論您的測試和測量要求。我們可以為您的實驗室或生產(chǎn)線需求建議最佳系統(tǒng)解決方案。無論是離線、周期性在線還是全在線系統(tǒng)——我們都可以提供適合您需求的測量系統(tǒng)。

功能和優(yōu)點

· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計，具備從質(zhì)量控制實驗室到生產(chǎn)車間的即時膜重測量能力。

· 非接觸式 – 測量過程中不接觸涂層或基材，保持樣品和部件的完整性。

· 絕對厚度測量 – 超高精度的實時涂層和膜厚度測量，加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。

· 基材獨立 – 適用于濕樣或干樣的透明、有色或著色基材的測量。

· 廣泛應(yīng)用 – 實時測量單層或雙層涂層，精度達到亞微米級。

· 高度精確 – 相比浮動探頭，膜重測量工具更快且更精確。

· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性的ROI和EXR增強光學(xué)干涉技術(shù)。

· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料、返工勞動力和能源成本。

· 強大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包自動將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中。

規(guī)格

測量范圍:   0.2至250微米（涂層厚度）

精度:   涂層厚度的±1%（標稱值）* 基于使用NIST可追溯的厚度標準進行的整個測量范圍（0.2至250微米）的精度驗證

測量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至45°C

輸出指標:   微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令

操作系統(tǒng):   Windows®平臺

制造:   美國制造

認證:   CE認證、UL認證和CSA認證